ZL-IId試塊/ZL-IId探傷標(biāo)準(zhǔn)試塊

ZL-IId探傷試塊|啟航ZL-IId縱波靈敏度試塊|啟航檢測科技（上海）有限公司優(yōu)惠價供應(yīng)

縱波靈敏度試塊依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)中技術(shù)2要求而設(shè)計，該類試塊主要適用于標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)2中縱波檢測以平底孔為基準(zhǔn)反射體，制作縱波距離-增益-尺寸曲線(DGS)。試塊依據(jù)檢測范圍及平底孔直徑的不同共設(shè)計兩個系列七塊試塊，ZL-I系列為<40mm縱波靈敏度試塊，ZL-II系列為≥40mm縱波靈敏度試塊。縱波靈敏度試塊設(shè)計內(nèi)容見下表。

國家標(biāo)準(zhǔn)GB/T 11345—2013《焊縫無損檢測 超聲檢測 技術(shù)、檢測等級和評定》、GB/T 29711—2013 《焊縫無損檢測 超聲檢測 焊縫中的顯示特征》、GB/T 29712—2013《焊縫無損檢測 超聲檢測 驗收等 級》于2013年9月18日頒布、2014年6月1日實施。該系列標(biāo)準(zhǔn)為推薦性標(biāo)準(zhǔn)，分別對應(yīng)焊縫超聲檢測的技術(shù)方法 和檢測等級、顯示特征判定以及焊縫質(zhì)量驗收三個方面，代替GB/T 11345—1989標(biāo)準(zhǔn)。標(biāo)準(zhǔn)中明確給出設(shè)定參 考靈敏度的要求，但沒有給出標(biāo)準(zhǔn)試塊圖紙，因此各行業(yè)需根據(jù)使用不同，依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計了多種試塊，為規(guī)范 試塊設(shè)計，汲取各行業(yè)設(shè)計之優(yōu)點最終設(shè)計出整套標(biāo)準(zhǔn)試塊。本套試塊為產(chǎn)品，本手冊僅供參考學(xué)習(xí)，請 勿用于任何商業(yè)活動。

依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)容要求試塊共分五大類，共計28塊。(φ3mm橫孔靈敏度試塊、縱波靈敏度試塊、橫波靈敏度 試塊、槽型基準(zhǔn)靈敏度試塊、串列式試塊。)

縱波靈敏度試塊

縱波靈敏度試塊依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)中技術(shù)2要求而設(shè)計，該類試塊主要適用于標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)2中縱波檢測以平底孔為基準(zhǔn)反射體，制作縱波距離-增益-尺寸曲線(DGS)。試塊依據(jù)檢測范圍及平底孔直徑的不同共設(shè)計兩個系列七塊試塊，ZL-I系列為<40mm縱波靈敏度試塊，ZL-II系列為≥40mm縱波靈敏度試塊。縱波靈敏度試塊設(shè)計內(nèi)容見下表。

RB-1、RB-2、RB-3為系列試塊，分別適合8-25、8-100和 8-150mm的板厚，其標(biāo)準(zhǔn)反射體為40mm的橫通孔。主要用途繪制距離-波幅曲線，調(diào)整探測范圍和掃查速度。測定斜探頭的K值。

RB-1、RB-2、RB-3為系列試塊，分別適合8-25、8-100和 8-150mm的板厚，其標(biāo)準(zhǔn)反射體為φ3×40mm的橫通孔。主要用途繪制距離-波幅曲線，調(diào)整探測范圍和掃查速度。測定斜探頭的K值。

RB-1試塊，適用于檢測工件厚度為≥8mm~25mm的焊接接頭。橫波檢驗時直射波檢測所對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)孔深度分別為5mm、10mm、15mm、20mm、一次反射波檢測所對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)孔深度分別為30mm、35mm、40mm、45mm、二次反射波檢測所對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)孔深度分別為55mm、60mm、65mm、70mm。縱波檢測時所對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)孔深度為5mm、10mm、15mm、20mm、50mm

RB-2試塊，適用于檢測工件厚度為≥8mm~100mm的焊接接頭。橫波檢驗時直射波檢測所對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)孔深度分別為10mm、20mm、30mm、40mm、50mm、60mm、70mm、80mm、90mm、100mm，一次反射波檢測所對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)孔深度分別為120mm、130mm、140mm、150mm、160mm、170mm、180mm、190mm、200mm、210mm。縱波檢測時所對應(yīng)的標(biāo)準(zhǔn)孔深度為10mm、20mm、30mm、40mm、50mm。

頻率(MHz)	晶片尺寸(mm)	型號		焦距	插座
		P型	C型
1.25	20	1.25P20 F5	1.25C20 F5	5	Q6(雙)
		1.25P20 F15	1.25C20 F15	15
2.5	10	2.5P10 F5	2.5C10 F5	5
		2.5P10 F8	2.5C10 F8	8
		2.5P10 F10	2.5C10 F10	10
	14	2.5P14 F5	2.5C14 F5	5
		2.5P14 F10	2.5C14 F10	10
		2.5P14 F15	2.5C14 F15	15
		2.5P14 F20	2.5C14 F20	20
		2.5P14 F30	2.5C14 F30	30
	20	2.5P20 F5	2.5C20 F5	5
		2.5P20 F10	2.5C20 F10	10
		2.5P20 F15	2.5C20 F15	15
		2.5P20 F20	2.5C20 F20	20
		2.5P20 F30	2.5C20 F30	30
5	6	5P6 F5	5C6 F5	5
		5P6 F8	5C6 F8	8
	8	5P8 F5	5C8 F5	5
		5P8 F8	5C8 F8	8
		5P8 F10	5C8 F10	10
	10	5P10 F5	5C10 F5	5
		5P10 F8	5C10 F8	8
		5P10 F10	5C10 F10	10
	14	5P14 F5	5C14 F5	5
		5P14 F10	5C14 F10	10
		5P14 F15	5C14 F15	15
		5P14 F20	5C14 F20	20
		5P14 F30	5C14 F30	30
	20	5P20 F5	5C20 F5	5
		5P20 F10	5C20 F10	10
		5P20 F15	5C20 F15	15
		5P20 F20	5C20 F20	20
		5P20 F30	5C20 F30	30

*分普通前沿和短前沿兩種。
*可根據(jù)客戶需要定做其他規(guī)格的探頭，詳情請聯(lián)系。

頻率(MHz)	晶片尺寸(mm)	型號		插座
		P型	C型
2.5	8*12	2.5P8*12 K0.8	2.5C8*12 K0.8	Q9
		2.5P8*12 K1	2.5C8*12 K1
		2.5P8*12 K1.5	2.5C8*12 K1.5
		2.5P8*12 K2	2.5C8*12 K2
		2.5P8*12 K2.5	2.5C8*12 K2.5
		2.5P8*12 K3	2.5C8*12 K3
	9*9	2.5P9*9 K0.8	2.5C9*9 K0.8
		2.5P9*9 K1	2.5C9*9 K1
		2.5P9*9 K1.5	2.5C9*9 K1.5
		2.5P9*9 K2	2.5C9*9 K2
		2.5P9*9 K2.5	2.5C9*9 K2.5
		2.5P9*9 K3	2.5C9*9 K3
5	8*12	5P8*12 K0.8	5C8*12 K0.8
		5P8*12 K1	5C8*12 K1
		5P8*12 K1.5	5C8*12 K1.5
		5P8*12 K2	5C8*12 K2
		5P8*12 K2.5	5C8*12 K2.5
		5P8*12 K3	5C8*12 K3
	9*9	5P9*9 K0.8	5C9*9 K0.8
		5P9*9 K1	5C9*9 K1
		5P9*9 K1.5	5C9*9 K1.5
		5P9*9 K2	5C9*9 K2
		5P9*9 K2.5	5C9*9 K2.5
		5P9*9 K3	5C9*9 K3

頻率(MHz)	晶片尺寸(mm)	型號		插座
		P型	C型
2.5	6*8	2.5P6*8 K0.8	2.5C6*8 K0.8	Q9
		2.5P6*8 K1	2.5C6*8 K1
		2.5P6*8 K1.5	2.5C6*8 K1.5
		2.5P6*8 K2	2.5C6*8 K2
5	6*6	5P6*6 K0.8	5C6*6 K0.8	Q6
		5P6*6 K1	5C6*6 K1
		5P6*6 K1.5	5C6*6 K1.5
		5P6*6 K2	5C6*6 K2
		5P6*6 K2.5	5C6*6 K2.5
		5P6*6 K3	5C6*6 K3
	6*8	5P6*8 K0.8	5C6*8 K0.8	Q9
		5P6*8 K1	5C6*8 K1
		5P6*8 K1.5	5C6*8 K1.5
		5P6*8 K2	5C6*8 K2
		5P6*8 K2.5	5C6*8 K2.5
		5P6*8 K3	5C6*8 K3

接收客戶定制各種規(guī)格的雙晶斜探頭，定制時請告知頻率、晶片大小、折射角或 K 值、焦點深度、前沿距離、外殼、接插頭等指標(biāo)要求。

該類試塊依據(jù)標(biāo)準(zhǔn)中技術(shù)1及附錄E的要求而設(shè)計，該類試塊主要適用于標(biāo)準(zhǔn)技術(shù)1中橫波及縱波檢測以φ3mm橫孔為基準(zhǔn)設(shè)定靈敏度，試塊依據(jù)檢測范圍的不同共設(shè)計五塊試塊，試塊設(shè)計內(nèi)容見下表。

序號	試塊代號	試塊名稱	標(biāo)準(zhǔn)反射體(mm)	檢測范圍(mm)
1	SD-1	φ3mm橫孔試塊	φ3×40橫孔	8≤t≤15
2	SD-2	φ3mm橫孔試塊	φ3×40橫孔	15<t≤20< span="">
3	SD-3	φ3mm橫孔試塊	φ3×40橫孔	20<t≤40< span="">
4	SD-4	φ3mm橫孔試塊	φ3×40橫孔	40<t≤100< span="">
5	SD-5	φ3mm橫孔試塊	φ3×40橫孔	t>100

啟航檢測科技（上海）有限公司是一家*從事無損檢測設(shè)備代理的公司，主營超聲波檢測設(shè)備及探頭、超聲波相控陣、超聲TOFD探傷儀、超聲波相控陣探頭以及數(shù)字成像平板等*設(shè)備，品牌有奧林巴斯NDT、美國磁通、美國sherwen、汕超、新美達(dá)、美國GE等多家產(chǎn)品。長期以來，公司堅持走科技創(chuàng)新之路，不斷拓展產(chǎn)品線及產(chǎn)品技術(shù)，加大應(yīng)用技術(shù)人員投入。

公司提供的無損檢測儀器設(shè)備包括工業(yè)X光機(jī)、工業(yè)CT、CR、DR、工業(yè)洗片機(jī)、超聲波探傷儀、超聲波相控陣、超聲波測厚儀、超聲波探頭、渦流探頭、渦流陣列探傷儀、管材的無損檢測解決方案、渦流陣列探傷儀、超聲導(dǎo)波、超聲TOFD探傷儀、渦流陣列、磁粉探傷機(jī)、著色滲透劑、熒光滲透線、工業(yè)內(nèi)窺鏡、大型復(fù)合材料超聲波自動化檢測系統(tǒng)、大型超聲波板材檢測系統(tǒng)、大型超聲波管材檢測系統(tǒng)、大型壓力容器超聲波檢測系統(tǒng)、汽車點焊超聲波成像分析儀和其它實驗室儀器。

超聲波探傷儀、相控陣探傷儀、磁粉探傷儀、膠片、探傷劑、耦合劑、試塊、洗片槽、膠片機(jī)、黑光燈、紫外線燈、相控陣探頭、單晶直探頭、雙晶直探頭、單晶斜探頭、雙晶斜探頭、水浸探頭、保護(hù)膜探頭、表面波探頭、絕緣子超聲波探頭、爬坡探頭、TOFD探頭、楔塊探頭、楔塊、導(dǎo)波探頭、磁性探頭、單晶連接線、雙晶連接線、反差增強(qiáng)劑、密度計、觀片燈、洗片夾、拉環(huán)磁鋼、鉛字、射線機(jī)、射線燈、個人劑量報警儀、輻射儀、環(huán)境輻射儀、黑油磁懸液、黑水磁懸液、紅油磁懸液、紅水磁懸液、紅磁膏、黑磁膏、紅磁粉、黑磁粉、噴壺、提升力試塊、梨形測定管、直型測定管、消泡劑、防銹劑、分散劑、磁場強(qiáng)度計、白光照度計、紫外照度計、暗室紅燈、三色燈、顯影粉、定影粉、顯影液、定影液、暗袋、增感屏、防護(hù)背心、鉛衣、像質(zhì)計、無損檢測配件、

長期以來，依托高素質(zhì)的技術(shù)人員和銷售隊伍，本著誠信守法，客戶*的經(jīng)營原則，以良好的信譽、豐富的經(jīng)驗、周到的服務(wù)，為客戶提供了的檢測設(shè)備及技術(shù)解決方案，贏得了國內(nèi)外廣大用戶的信賴和好評。我們提供的設(shè)備、系統(tǒng)及方案應(yīng)用于中國的各種*工業(yè)領(lǐng)域，特別應(yīng)用于航空航天、汽車制造、石油化工、船舶制造、冶金、鐵路、核工業(yè)及電力、特檢、高校及研究機(jī)構(gòu)等。

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